| 加工定制：是 | 品牌：美方 | 型号：ZY-01 |
| 类型：缺陷对比卡 | 外形尺寸：详见实物mm | 重量：0.002Kg |
| 产品用途：缺陷对比 | 规格：详见实物 |
点线规：
主要用于产品外观检查用，判定污点、表面划痕。是用来测量、对比手机外壳、LENS、DISPLAY等部件的点、划痕的面积、直径、宽度、长度是否超过基准。精度高最小线宽0.01mm，点大小0.1mm。也可根据客户要求进行定制。
点线规：
主要用于产品外观检查用，判定污点、表面划痕。是用来测量、对比手机外壳、LENS、DISPLAY等部件的点、划痕的面积、直径、宽度、长度是否超过基准。精度高最小线宽0.01mm，点大小0.1mm。也可根据客户要求进行定制。
点线规：
主要用于产品外观检查用，判定污点、表面划痕。是用来测量、对比手机外壳、LENS、DISPLAY等部件的点、划痕的面积、直径、宽度、长度是否超过基准。精度高最小线宽0.01mm，点大小0.1mm。也可根据客户要求进行定制。
点线规：主要用于品管部门判定污点，是用来测量、对比手机外壳、LENS、DISPLAY等部件的点、划痕的面积、直径、宽度、长度是否超过基准。精度高最小线宽0.01mm，点大小0.1mm。也可根据客户要求进行定制。
点线规：主要用于品管部门判定污点，是用来测量、对比手机外壳、LENS、DISPLAY等部件的点、划痕的面积、直径、宽度、长度是否超过基准。精度高最小线宽0.01mm，点大小0.1mm。也可根据客户要求进行定制。
点线规：主要用于品管部门判定污点，是用来测量、对比手机外壳、LENS、DISPLAY等部件的点、划痕的面积、直径、宽度、长度是否超过基准。精度高最小线宽0.01mm，点大小0.1mm。也可根据客户要求进行定制。
